電子顯微學網(wǎng)絡(luò)會議(iConference on Electron Microscopy,iCEM)由儀器信息網(wǎng)發(fā)起,圍繞當下電子顯微學新技術(shù)和熱點應(yīng)用邀請業(yè)界專家學者做精彩報告,為廣大電子顯微學科研及相關(guān)工作者提供一個免費的學習平臺。
2020 年 6 月 18 日,飛納電鏡——復(fù)納科學儀器(上海)有限公司的工程師將以“ 飛納全自動掃描電鏡 ParticleX 在鋼鐵、汽車、鋰電等材料檢測中的應(yīng)用” 為題,系統(tǒng)闡述全自動掃描電鏡 ParticleX 的工作原理,并分享在鋼鐵夾雜物、汽車清潔度、鋰電清潔度和 3D 打印粉體評估等領(lǐng)域的應(yīng)用案例。
報告時間:2020 年 6 月 18 日 15:00 - 15:30
全自動掃描電鏡實現(xiàn)了從定性分析到定量分析的突破,同時,報告中還會為大家介紹 2020 年推出的 第六代飛納臺式掃描電鏡 產(chǎn)品及其技術(shù)突破。歡迎大家準時參加,精彩內(nèi)容,不容錯過呦!
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